(1) 篩分分析方法

簡(jiǎn)單的也是應(yīng)用早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現(xiàn)今的標(biāo)準(zhǔn)篩(如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩)細(xì)一般只到400目(相當(dāng)于38μm)，因此，對(duì)于小于10μm的超細(xì)粉體來(lái)說(shuō)，不可能用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測(cè)。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長(zhǎng)和經(jīng)常發(fā)生堵塞，很少在分析中使用。

篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級(jí)。對(duì)于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用篩分法測(cè)定其粒度組成和粒度分布。

篩分分析采用的套篩一般有兩種：一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩，實(shí)驗(yàn)室可以自己制造，用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等，根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩，用于篩分細(xì)粒物料，標(biāo)準(zhǔn)套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來(lái)直接接取低層篩子的篩下產(chǎn)物)。

將標(biāo)準(zhǔn)篩按篩孔由大到小，從上到下排列起來(lái)，各個(gè)篩子所處的層位叫篩序;在疊好的篩序中，每?jī)蓚€(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標(biāo)準(zhǔn)篩有一個(gè)作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩，如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩。表1所列為幾種常見的標(biāo)準(zhǔn)篩。

粒度范圍為6mm至0.038mm的物料的篩分分析，常用實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)套篩進(jìn)行，可以用干法，也可以用濕法。如果對(duì)篩析的度要求不甚嚴(yán)格，通常直接進(jìn)行干法篩析。但如果試樣含水、含泥較多，物料互相粘結(jié)時(shí)，應(yīng)采用干濕聯(lián)合篩析法，篩析得到的結(jié)果才比較。

(2) 其它粒度分析方法

當(dāng)今用于超細(xì)粉體粒度檢測(cè)的主要方法的沉降法(包括重力沉降和離心沉降)、在線激光粒度儀、顯微鏡、庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器以及用于測(cè)定比表面積的透過法和BET法。表2所列為這些方法的基本原理、測(cè)定范圍及其主要特點(diǎn)。